폴크(FOLC)

서브픽셀 엣지 검출(Subpixel Edge Detection) 알고리즘은 머신 비전 분야에서 매우 정교하게 설계된 고정밀 위치 추정 기법입니다. 이 방식은 일반적인 픽셀 해상도를 넘어 0.1 픽셀 이하의 위치 정밀도를 달성할 수 있습니다.엣지 검출의 기본 흐름 다음과 같은 순서로 작동합니다: ROI(Region of Interest) 설정 -> 측정 위치에 ROI 위치시키기 픽셀 프로파일 생성 (Intensity Profile) -> I(x)=grayscale intensity Gradient 계산 (1차 미분 또는 필터 기반) -> G(x)=I(x+1)−I(x)또는 Gaussian Derivative 필터도 사용 가능:-> G(x) = I(x) ∗ d / dx * Gaussian(x) Peak 위치 ..

후보: Feature Matching + RANSAC + 서브픽셀 정합구성:특징점 추출: SIFT 또는 SuperPoint 등 (정밀도 좋음)정합 필터링: FLANN + RANSAC으로 잘못된 매칭 제거정밀 위치 추정: 서브픽셀 정렬 (Sub-pixel refinement)(선택) 이미지 정합 후 위치 보정 (Homography로 변환 모델 추정)장점:회전/스케일/조명 변화/노이즈에 매우 강함정확한 위치 정합 가능수 μm 단위의 정밀 정합도 가능 (산업/과학 영상에서도 활용)후보: Deep Learning 기반 - Siamese Network / Object Detection장점:특징점 없이 복잡한 패턴도 학습을 통해 정합회전/스케일/노이즈/왜곡에 매우 강함정합 유무 뿐 아니라 존재 확률, 위치 추정까지..